1. ......................
پدیدآورنده: Singh, Narinder
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه فردوسی مشهد (خراسان رضوی)
موضوع: Very large scale integration - Testing - Data processing ، Integrated circuits,، Expert systems )Computer science(,، Artificial intelligence
رده :
TK
7874
.
S533
1987
2. Accelerating test, validation and debug of high speed serial interface
پدیدآورنده: / Yongquan Fan, Zeljko Zilic
کتابخانه: كتابخانه مركزی و مركز اسناد دانشگاه شهيد چمران (خوزستان)
موضوع: Interface circuits--Testing,Very high speed integrated circuits--Testing
رده :
TK
,
7868
,.
I58
,
F36
,
2011
3. Accelerating test, validation and debug of high speed serial interfaces
پدیدآورنده:
کتابخانه: كتابخانه مركزی و مركز اسناد دانشگاه مازندران (مازندران)
موضوع: Interface circuits ; Testing. ; Very high speed integrated circuits ; Testing. ;
4. Accelerating test, validation and debug of high speed serial interfaces
پدیدآورنده: Fan, Yongquan., Yongquan Fan, Zeljko Zilic
کتابخانه: كتابخانه و مركز اسناد دانشگاه كردستان (کردستان)
موضوع: ، Interface circuits, Testing,، Very high speed integrated circuits, Testing
5. Advanced simulation and test methodologies for VLSI design
پدیدآورنده: Russell, Gordon.
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه فردوسی مشهد (خراسان رضوی)
موضوع: Very large scale integration - Testing ، Integrated circuits
رده :
TK
7874
.
R88
1989
6. Algorithmic and knowledge based CAD for VLSI
پدیدآورنده: edited by Gaynor Taylor and Gordon Russell
کتابخانه: كتابخانه پردیس علوم دانشگاه تهران (تهران)
موضوع: Design and construction -- Data processing ، Integrated circuits -- Very large scale integration,Testing -- Data processing ، Integrated circuits -- Very large scale integration,، Computer-aided design,، Expert systems )Computer science(
رده :
TK
7874
.
A416
1992
7. An artificial intelligence approach to test generation
پدیدآورنده: Singh, Narinder
کتابخانه: کتابخانه مرکزی دانشگاه صنعتی امیرکبیر (تهران)
موضوع: Integrated circuits - Very large scale integration - Testing - Data processing , Expert systems )Computer science( , Artificial intelligence
رده :
TK
7874
.
S533
8. An artificial intelligence approach to test generation
پدیدآورنده: Singh, Narinder, 6591-
کتابخانه: كتابخانه مركزی و مركز اسناد دانشگاه صنعتی خواجه نصير الدين طوسى (تهران)
موضوع: ، Integrated circuits -- Very large scale integration -- Testing -- Data processing,، Expert systems )Computer science(,، Artificial intelligence
رده :
TK
7874
.
S533
9. An artificial intelligence approach to test generation
پدیدآورنده: / by Narinder Singh
کتابخانه: کتابخانه پرديس 2 دانشکده‌های فنی دانشگاه تهران (تهران)
موضوع: Integrated circuits - Very large scale integration - Testing - Data processing,Expert systems (Computer science),Artificial intelligence
رده :
TK
7874
.
S533
10. An artificial intelligence approach to test generation
پدیدآورنده: / by Narinder Singh
کتابخانه: کتابخانه دانشکدگان فنی 1 دانشگاه تهران (تهران)
موضوع: Integrated circuits - Very large scale integration - Testing - Data processing,Expert systems (Computer science),Artificial intelligence
رده :
TK
7874
.
S533
1986
11. An artificial intelligence approach to test generation
پدیدآورنده: / by Narinder Singh
کتابخانه: کتابخانه پرديس 2 دانشکده‌های فنی دانشگاه تهران (تهران)
موضوع: Integrated circuits - Very large scale integration - Testing - Data processing,Expert systems (Computer science),Artificial intelligence
رده :
TK
7874
.
S533
1986
12. An artificial intelligence approach to test generation
پدیدآورنده: / by Narinder Singh
کتابخانه: کتابخانه دانشکدگان فنی 1 دانشگاه تهران (تهران)
موضوع: Integrated circuits - Very large scale integration - Testing - Data processing,Expert systems (Computer science),Artificial intelligence
رده :
TK
7874
.
S533
13. An artificial intelligence approach to test generation
پدیدآورنده: by Narinder Singh
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اسناد دانشگاه شهید مدنی آذربایجان (آذربایجان شرقی)
موضوع: Integrated circuits - Very large scale integration - Testing - Data processing,Expert systems (computer science),Artificial intelligence
رده :
TK
,
7874
,.
S533
,
1987
14. An artificial intelligence approach to test generation
پدیدآورنده: / by Narinder Singh
کتابخانه: کتابخانه پرديس 2 دانشکده‌های فنی دانشگاه تهران (تهران)
موضوع: Integrated circuits - Very large scale integration - Testing - Data processing,Expert systems (Computer science),Artificial intelligence
رده :
TK
7874
.
S533
1986
15. An artificial intelligence approach to test generation
پدیدآورنده: Singh, Narinder, 6591-
کتابخانه: كتابخانه پژوهشگاه نیرو (تهران)
موضوع: ، Integrated circuits- Very large scale integration- Testing- Data processing,، Expert systems )Computer science(,، Artificial intelligence
رده :
TK
7874
.
S533
1987
16. An introduction to logic circuit testing /
پدیدآورنده: Parag K. Lala
کتابخانه: مرکز و کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان‌های اروپایی (قم)
موضوع: Digital electronics-- Testing,Electric fault location,Integrated circuits-- Very large scale integration-- Testing,Logic circuits-- Testing
17. An introduction to mixed-signal IC test and measurement
پدیدآورنده: / Mark Burns, Gordon W. Roberts
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه محقق اردبیلی ره (اردبیل)
موضوع: Integrated circuits- Testing,Mixed signal circuits- Testing
رده :
TK7874
.
B825
2001
18. An introduction to mixed-signal IC test and measurement
پدیدآورنده: Burns, Mark, Mark Burns, Gordon W. Roberts
کتابخانه: كتابخانه و مركز اسناد دانشگاه كردستان (کردستان)
موضوع: Testing ، Integrated circuits,Testing ، Mixed signal circuits
رده :
TK7874
.
B825
2001
19. An introduction to mixed-signal IC test and measurement
پدیدآورنده: / Mark Burns, Gordon W. Roberts
کتابخانه: کتابخانه مرکزی، مرکز اسناد و تامین منابع علمی دانشگاه صنعتی سهند (آذربایجان شرقی)
موضوع: Integrated circuits- Testing,Mixed signal circuits- Testing
رده :
E-BOOK
20. An introduction to mixed-signal IC test and measurement
پدیدآورنده: / Mark Burns, Gordon W. Roberts
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه محقق اردبیلی ره (اردبیل)
موضوع: Integrated circuits- Testing,Mixed signal circuits- Testing
رده :
TK7874
.
B825
2001
